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PT-920B
PT-920B
8英寸高精度全自動探針臺
高精度定位平臺(定位精度±2微米)
可滿足1000根探針測試,可用于多芯同時探測,提升產能效益
高精密光學模組,結合最新圖像軟件算法,實現探針自動精確定位,安全可靠全自動測試
獨特機械手吸附技術,解決Taiko\超薄\翹曲等晶圓片無損自動上下料傳輸
CHUCK模塊化設計,選配、更換更加便捷
應用領域
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
主要功能
CHUCK自動清理功能
晶圓ID自動讀取
自動打點
晶圓厚度自動檢測功能
自動晶圓對準功能
自動對針功能
針痕檢測功能
自動清針功能
MAP圖實時顯示、存儲產品
測試應用
壞點重測
射頻測試
高壓測試
大電流測試
高溫測試
特殊應用
無Notch預對準
遮光處理
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8英寸全自動探針臺
適用于5~8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計,可以滿足2000根探針以下的單芯或多芯測試,配備全自動上下片系統,具有高精度、高剛性,高穩定性的特點;自動對針提高了對準精度,方便客戶多針、多芯測試需要
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8英寸全自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
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8英寸全自動探針臺
適用于4~8英寸半導體集成電路、分立器件晶圓的全自動探針測試。配備有高可靠性自動上下片系統,高精度CCD視覺定位系統,自動化程度高。更具有薄片傳輸能力,應用面廣,尤其滿足大功率分立器件(IGBT、MOSFET)測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于 4~8 英寸集成電路與分立器件晶圓的自動測試。本機具備有多樣靈活的測試方式及豐富的 MAPPING 處理功能。產品設計滿足了多芯、長針卡測試的需要,并可根據測試需求選配視覺系統實現自動掃描、定位,還可增配進行高溫、高壓測試
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